摘要标题：
在暴露于电磁场后，从牙科汞合金修复体中增加了汞释放，这是对高敏性人和孕妇的潜在危害。
摘要来源：
Rev Enviration Health。 2015; 30（4）：287-92。 PMID： 26544100
摘要作者（s）ghazal mortazavi
摘要：在过去的几十年中，全世界的电磁场（例如Wi-Fi路由器和移动电话）的通用来源在世界范围内大大增加了。人们一直担心电磁场会导致不利的健康影响。最近已经显示，即使低剂量的汞也能够引起毒性。因此，开始努力向下或消除在牙科修复体中使用汞汞合金的使用。从牙齿amalga汞释放的释放增加我们的团队和其他研究人员报告了接触电磁场（例如MRI和手机产生的电磁场）后的修复体。我们最近表明，一些报道MRI后没有增加汞释放的论文可能会出现一些方法上的错误。尽管以前认为从牙科汞齐中释放的汞量不能危险，但新发现表明，即使在低剂量下，汞也可能引起毒性。根据最近的流行病学发现，可以声称从牙科汞合金填充物释放的汞安全值得怀疑。因此，由于某些人倾向于对汞的毒性作用过敏，因此监管机构应重新评估具有汞合金修复体的个体中电磁场暴露的安全性。另一方面，我们报告说，暴露于电磁场后的汞释放增加可能对孕妇有风险。我值得一提的是，在某些研究中发现了母体和脐带血汞水平之间的密切正相关，我们关于暴露于电磁场的影响对电磁场对从牙科汞齐中释放汞释放的影响，这使我们得出了这一结论，这一结论是，孕妇具有牙科amalgam填充物应限制其对电子电磁现场的预防效果，以预防其毒性效果。根据这些发现，由于婴儿和儿童更容易受到汞暴露的影响，并且由于某些人通常会暴露于电磁场的不同来源，因此我们可能需要在评估amalgam填充物的健康影响时需要范式转移。
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