摘要标题：
暴露于1800 MHz射频辐射辐射在原发性培养的神经元中诱导线粒体DNA的氧化损害。
摘要来源：
脑res。 2010年1月22日； 1311：189-96。 EPUB 2009 10月30日。PMID： 19879861 19879861 Zhengping Yu，Wei Zhang，Yuan Wang，Xubu Wang，Maoquan Li，Yang Chen，Chunhai Chen，Chunhai Chen，Mindi He，Mindi HE，Guangbin Zhang，Min Zhong
隶属关系：shangcheng Xu Xu Xu Abstract：at Impact：
增加了氧化范围内的辐射（compliation nigniation conception）大脑。由于线粒体DNA（mtDNA）缺陷与各种神经系统疾病密切相关，而mtDNA尤其容易受到氧化应激的影响，因此这项研究的目的是确定辐射辐射是否会对mtDNA造成氧化损害。在这项研究中，我们以217 Hz调制的频率为1800 MHz，以平均特殊的吸收率（SAR）为2 W/kg，将原代培养的皮质神经元暴露于脉冲的RF电磁场。暴露后24小时，我们发现RF辐射在神经元的线粒体中引起8-羟基鸟嘌呤（8-OHDG）的水平显着增加，这是DNA氧化损伤的常见生物标志物。与这一发现同时，mtDNA的拷贝数和线粒体RNA（mTRNA）转录的水平显示RF暴露后明显降低。这些mtDNA障碍都可以通过褪黑激素预处理来逆转，褪黑激素已知是大脑中有效的抗氧化剂。总之，这些结果表明1800 MHz RF辐射可能会对原代培养神经元中的mtDNA造成氧化损害。对mtDNA的氧化损伤可能解释了大脑中RF辐射的神经毒性。