接触从手机发出的RF-EMF会导致正畸电器患者唾液中较高水平的镍含量

移动电话的射频电磁场（RF-EMF）对正畸支架释放镍的影响：一项体外研究。

int Orthod。 2018年7月11日EPUB 2018年7月11日。PMID： 30007574

Seyed Mohammad Javad Mortazavi， Maryam Paknahad，Iman Khaleghi，Mahsa Eghlidospour

Mohammad Javad Javad Mortazavi

全球使用手机的急剧增加引起了人们对其潜在不良健康的极大关注效果。

目标： 本研究的目的是评估射频电磁场（RF-EMFS）的影响从移动电话上发出的镍级释放从正畸支架发射。

方法： 二十个不锈钢支架被随机分为实验组和对照组（n = 10）。将支架浸入37°C的人造唾液中6个月。实验组暴露于从手机刺激器中发出的4小时的GSM 900MHz RF-EMF。特定的吸收率（SAR）为2.287W/kg。通过使用冷蒸气原子吸收光谱法评估了两组人造唾液中镍的浓度。 Mann-Whitney测试用于评估暴露和非暴露组之间的镍释放的显着差异。

结果： >暴露和非暴露组中的平均镍水平分别为11.95和2.89μg/l。这些组的人造唾液中镍浓度之间的差异具有统计学意义（p = 0.001）。

结论： 暴露于手机发出的RF-EMF会导致正畸电器患者唾液中较高镍水平的镍。由于镍暴露会导致人类过敏反应，并且考虑到这一点，大约10-20％的人口可能对镍敏感，因此需要进一步的研究来评估从常见设备发出的射频电磁场（RF-EMF）的影响例如从正畸支架释放镍级的手机或Wi-Fi路由器。