935-MHz手机模拟电磁辐射对小鼠胚胎植入过程中子宫内膜腺细胞的影响。
摘要来源：
J Huazhong Univ Sci Technolog Med Sci。 2012年10月； 32（5）：755-9。 Epub 2012年10月18日。PMID： 23073809
摘要作者：
Wenhui Liu，Xinmin Zheng，Zaiqing QU，Ming Zhang，Chun Zhou，Ling MA，Yuanzhen Zhang
文章隶属关系：武汉大学，武汉，430071，中国， [电子邮件受保护] 。
摘要：
这项研究检查了935MHz手机模拟电磁辐射对怀孕小鼠胚胎植入的影响。每个7周龄的昆明（km）雌性白鼠在一个笼子中与一个km雄性小鼠建立排卵。在怀孕的前三天，怀孕的小鼠以低强度（150μW/cm（2）暴露于电磁辐射，范围从130至200μw/cm（2），每天暴露于2或4-H ），中强度（570μW/cm（2），范围从400至700μW/cm（2），每天暴露2或4小时）或高强度（1400μW/cm（2），，每天分别为1200至1500μW/cm（2），分别为2或4小时的暴露）。在妊娠后第4天（称为鼠胚胎植入的窗户），收集子宫内膜并悬架制作了子宫内膜腺细胞。使用激光扫描显微镜检测线粒体膜电位和细胞内钙离子浓度。在高强度，2和4小时组中，子宫内膜腺细胞的线粒体膜电位显着低于正常对照组（P <0.05）。低强度2-H组钙离子浓度升高，但在H中降低与正常对照组相比，IGH强度为4-H组（P <0.05）。然而，在低强度或中度组组和正常对照组之间，子宫内膜腺细胞的线粒体膜电位中没有发现显着差异，表明电磁辐射的强度更强，并且辐射的长度更长，以造成显着的功能和功能性和功能性和功能性和作用。线粒体膜的结构损伤。我们的数据表明，用935 MHz手机进行4小时的电磁辐射显着降低了线粒体膜电位，并降低了子宫内膜腺细胞的钙离子浓度。建议高强度的电磁辐射很可能诱导胚胎细胞的死亡并减少其植入的机会，从而构成高风险。